​   工业CT设备测量误差主要来源分析可以从以下几个方面着手，尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸测量结果对工业CT数据进行校准时，尤其对于使用平板探测器的系统来说，需要校准的尺寸应包含样品X-Y和X-Z两个平面(即平行和垂直与探测器的平面)，工业CT设备数据在这两个方向上单个像素尺寸往往并不相等，这取决于重建矩阵的选择。故在工业CT扫描过程中，应尽量避免样品放置时上下端面与射线平行，或者说应该尽量避免样品上下端面垂直于旋转轴，否则导致样品上下端面应采样不足，带来SDK重建为引，去掉因采样不足导致的重建为引可以通过改变样品的放置方式来解决，

   从投影重建图像过程中，主要的影响因素来自于射线硬化及射线散射带来的图像，硬化和散射伪影，导致图像灰度分布，偏离真实分布，给后续测量及阈值风格带来困难，这些伪影如果不经过适当的校正，会导致测量的可靠性降低。

   一般来说减弱射线硬化影响，可以通过在采集数据时放置前置滤波板来调节，也可以通过后续硬化校正算法来改良。

   数据处理过程中影响工业CT设备测量的主要因素有边界阈值的选择。例如工业CT重建之后获得物体的三维模型，在这一数据进行测量之前，需要选择适当的域值算法来分割材料与空气或不同材料之间的边界，也就是所谓的边缘检测过程，传统的阈值算法可能不够准确，现在我们将通过改进算法，例如使用基于实际表面的边缘检测算法，或通过搜索图像法的方向像素变化能提高边缘检测的精度。