​尽管2D射线检测平面检测简单且有效，但有时可能会出现偏差。3D工业CT无损检测成像为研发人员提供了更为直观的检测结果，提高了电池的研发效率和性能。

其中，X射线显微镜技术如蔡司的Xradia Versa系列，可以实现电池内部的高分辨率3D工业CT无损检测成像，分辨电极颗粒与孔隙、隔膜与空气等，可以大大简化流程，节省时间。

在此基础上，蔡司推出的4D微观结构演化表征方法，可以获得更多信息，提供更微小的细节特征。

当需要进一步高分辨率分析时，新一代聚焦离子束（FIB）技术成为首选。FIB结合SEM，允许样品在纳米级别进行精细加工和观察。蔡司和赛默飞均已推出相关显微镜产品。