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蔡司X射线显微镜Xradia 510 Versa高分辨率三维显微镜
详情说明
蔡司X射线显微镜Xradia 510 Versa高分辨率三维显微镜特点 1．X射线显微镜是一套无损立体重构显微成像设备，能够不破坏样品进行三维成像分析；能针对多种样品尺寸和类型实现大工作距离亚微米分辨率成像；可以无损亚微米分辨率揭示样品内部三维结构； 2．具有超高分辨率 (可达到500nm空间分辨率)并且突破了传统无损成像技术对样品大小的依赖和因分辨率不够而产生的局限性； 3．成像系统具备超高的成像衬度能力； 4．高功率X射线源技术，在维持同样紧凑的小焦点尺寸的同时提高了成像效率，同时改进了射线源的稳定性和可靠性，使测试效率提高一倍； 5．重构出的三维立体图像可以任意旋转观察，并可以做任意位置和任意方向的虚拟断层展示和定量分析。 蔡司高分辨率三维显微镜主要应用于材料领域，包括金属、高分子、陶瓷、碳纤维等各种复合材料的显微结构分析、纤维走向分析、孔隙率分析、尺寸测量、逆向工程等；在新能源电池领域，包括消费电子产品、新能源汽车、航空产品等安全性能分析；在生命科学领域研究软组织(如神经组织、血管网络、细胞结构、韧带和神经)、骨骼的矿物组织以及植物结构(如根和细胞结构)；在电子半导体行业、增材制造行业、生命科学、轻纺和化纤等领域都有广泛的应用。
